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武漢光谷薄膜技術有限公司整理了不同類型的集成電路都有的一些晶圓常規(guī)測試項目?以下是這些項目的測試方法 ...

上一章光谷薄膜說完了內建自測試技術?其實集成電路自測特征分析通常作為多種測試方法的補充?涵蓋電路內部 ...

前面武漢光谷薄膜提到了關于集成電路掃描設計技術?現(xiàn)在我們繼續(xù)說集成電路內建自測試技術?集成電路的內建 ...

武漢光谷薄膜前面說了集成電路微控制器測試隨機存取掃描?今天我們了解下集成電路微控制器測試減少干擾掃描 ...

前面武漢光谷薄膜提到最常見的掃描設計實現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時序電路的測試轉換為組合電路 ...

武漢光谷薄膜整理了集成電路掃描設計技術介紹供大家參考?時序電路測試比組合邏輯電路測試要復雜?為了使電 ...

數(shù)字調諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點的具體做法如下￤1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時復位輸入端RES ...

電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實際電路為例具體介紹兩種 ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測試的困難和復雜度也不斷增加?因此在集成電路設計階段就要考慮測試 ...

偽隨機測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...