偽隨機測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試軟件算法或?qū)Ｓ玫钠蠝y試電路來生成?比較容易?探針臺等設備若有足夠長的測試圖形?就能夠產(chǎn)生比較高的故障覆蓋率?

故障覆蓋率F與測試圖形長度L之間的關系可以表示為下面公式?式中A對于每一個給定的電路來說是一個常數(shù)?

偽隨機測試要滿足要求故障覆蓋率;測試圖形長度該取多少;生成可靠且易于實現(xiàn)的偽隨機序列等?

生成偽隨機序列通常采用兩種方法:

(1)同余法;

(2)用無輸人的線性反饋寄存器構成偽隨機序列生成電路?

傳統(tǒng)結構的偽隨機生成方法存在以下兩個缺點：

(1)隨機測試圖形大量不斷變化的位碼使得測試功耗大大增加；

(2)偽隨機測試中常用的是固定型故障模型?此模型難以描述CMOS深亞微米中的缺陷?這促使偽隨機測試技術不斷發(fā)展?為此在探針臺等設備內(nèi)建自測試技術中出現(xiàn)了一種全新的測試生成電路?即輸入單個位變化的偽隨機測試生成電路?該電路可以同時生成檢測固定型故障以及CMOS其他類型故障的測試圖形?