前面武漢光谷薄膜提到最常見的掃描設計實現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時序電路的測試轉(zhuǎn)換為組合電路的測試?降低了時序電路測試的復雜性?

今天來了解微控制器測試隨機存取掃描的方法?這種方法與掃描路徑法?電平相關掃描技術(shù)的目標相同?即對電路內(nèi)部的記憶元件具有完整的可控制性和可觀察性?

不同之處是不需引人移位寄存器?而需引人地址可編程模塊?使得內(nèi)部所有記憶元件可以被唯一地選擇?以便對記憶元件狀態(tài)進行控制和觀察?而這種地址可編程的機理同RAM相似?

使用隨機存取掃描方法的系統(tǒng)組態(tài)包含地址?譯碼器?地址可編程的存儲元件?系統(tǒng)時鐘以及清零功能等部分?同樣有掃描數(shù)據(jù)輸入端?掃描數(shù)據(jù)輸出端以及掃描時鐘?另外還需有一個門來產(chǎn)生置位功能?

隨機存取掃描方法使得系統(tǒng)中所有的記憶元件可控制和可觀察?在組合邏輯的網(wǎng)絡中?也可用這種方法?只要在每個觀察點增加一個門和地址即可?

后面武漢光谷薄膜會繼續(xù)為大家講解“微控制器測試減少干擾掃描路徑方法”?