電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實際電路為例具體介紹兩種方法?

1. 模塊劃分

這種方法將一個復雜的電路劃分成若干個子電路或者模塊?然后通過一些附加選擇邏輯?在芯片測試的不同階段將測試信號分別選通各個小模塊?從而提高電路的可測試性?劃分過程中通常采用數(shù)據(jù)總線結構和數(shù)據(jù)選擇器進行?

在一個數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)功能框圖中可以清楚地看到?該芯片由CU?I/O口及鎖相環(huán)三大模塊組成?而MCU部分又分成ROM?RAM?指令譯碼器?程序計數(shù)器堆棧寄存器及ALU等模塊?通過地址總線和數(shù)據(jù)總線相互連接?對于這樣的電路劃分?電路的可測試性可明顯提高?

2. 增加控制線及觀察點

增加控制線和觀察點的目的是使得電路內(nèi)部的狀態(tài)可控與可觀察?

針對時序電路單元中的復位端、置位端、時鐘信號等可以設置控制線?以便根據(jù)測試需要把該單元設置到相應的狀態(tài)?對于電路中的一些反饋線也可以設置控制線?目的是在測試階段將反饋邏輯斷開?

由于一個集成電路鏈接探針臺等設備的外引腳數(shù)量通常是有限的?因此在增加觀察點時盡量減少外部控制點和觀察點?最大限度地增加內(nèi)部的控制點和觀察點?通過外引腳的復用和利用數(shù)據(jù)選擇器等方法可以達到增加觀察點的目的?