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集成電路測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個(gè)步驟來得出測(cè)試結(jié)果￤1?測(cè)量值記錄方法通過探針臺(tái)等測(cè)試收到 ...

集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計(jì)和制造工藝的影響?同時(shí)也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...

在產(chǎn)業(yè)鏈中?集成電路測(cè)試可分為兩大類別￤集成電路晶圓測(cè)試和集成電路成品測(cè)試?這兩者主要依據(jù)所處的產(chǎn)業(yè) ...

集成電路測(cè)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測(cè)試 ...

集成電路測(cè)試原理如圖所示?圖中?待測(cè)電路DUT(Device Under Test)可以是集成電路晶 ...

經(jīng)過測(cè)試機(jī)?晶圓探針臺(tái)等設(shè)備對(duì)集成電路晶圓測(cè)試后?還有封裝后的集成電路成品測(cè)試?成品測(cè)試工廠是基于成 ...