集成電路測試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個步驟來得出測試結果￤

1?測量值記錄方法

通過探針臺等測試收到記錄測量值?這種方法僅記錄實際的全部或部分測試數據?或者僅記錄失效參數?以便后續(xù)進行統(tǒng)計分析?

2?變更輸入條件下的測量值記錄方法

這種方法是在原有測量值記錄方法的基礎上?改變輸入參數?并記錄相應的測試數據及其對應的輸入激勵?通過評估不同輸入情況下各個參數之間的關系?可以更全面地了解產品的性能?

3?合格性判斷方法

在使用這種方法之前?需要事先確定各個參數的測試標準?如果實際測試數據在測試標準范圍內?則判斷為合格品；否則判斷為不合格品?這種方法主要用于生產性測試?同時也可以進行失效參數的統(tǒng)計分析?

4?測試程序調試方法

當在探針臺等測試過程中發(fā)現錯誤時?需要對測試程序進行修改調試?這時就需要采用這種方法?