偽窮舉測試是集成電路測試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設(shè)備總的測試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測試具體方法如下￤

?根據(jù)待測電路的輸出對輸入的依賴關(guān)系?通?？梢园汛郎y電路分成兩大類：全局相關(guān)電路和局部相關(guān)電路。對于局部相關(guān)電路?假設(shè)其輸入端數(shù)量為n?輸出端數(shù)量為m?如果不進(jìn)行電路劃分直接通過輸入組合進(jìn)行測試?則測試次數(shù)為2^n;如果把該電路劃分成m個(gè)子電路?那么每一個(gè)子電路的輸入端數(shù)量n∨i肯定小于n,分別對這些子電路進(jìn)行窮舉測試?總的測試次數(shù)為N?這種方法總的測試次數(shù)N肯定小于2^n?

?對于全局相關(guān)電路?探針臺等設(shè)備不能按照上面的方法進(jìn)行電路的劃分來達(dá)到減少測試次數(shù)的目的?需要采用其他電路劃分方法?