探針臺基于通路敏化進行集成電路測試碼生成的具體步驟如下￤

1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平故障?是指導(dǎo)致電路中某一個節(jié)點電平為固定值的這一類故障?

2?確定傳輸通路?通過對有限數(shù)目的輸人端和輸出端進行測量來實現(xiàn)，而對于集成電路來說?通常利用計算機預(yù)先生成一個確定的測試碼集?并執(zhí)行測試程序?這種方法就是預(yù)定向量測試?

3?將該通路進行敏化?通路敏化法是使故障至少沿一條通路敏化?即適當選擇原始輸入值使故障位置的正常信號值與故障值相反?在故障情況下?隨著此信號值改變?線路內(nèi)至少應(yīng)有一個輸出端的值受其影響而改變?即敏化為故障?

4?設(shè)置電路外輸入端的邏輯值?尋找一個輸入組合并將之施加到電路輸入端使得故障點產(chǎn)生了預(yù)定的故障效應(yīng)(通過該效應(yīng)?使得電路中某節(jié)點的正常電平與發(fā)生故障時的不同)?并且使得該點到電路的某一個輸出端之間有一條通路敏化?那么這個輸入組合就是上述給定故障的一個測試碼?上述各個外輸入端的邏輯值就組成了一個測試碼?

探針臺對于基于故障的確定性測試生成方法來說?通常要求用專門的算法對特定的故障生成測試圖形?如D算法?PODEM算法?FAN算法?FASTEST算法和CONTEST算法等?這種方法生成的測試圖形相對來說長度短?但生成過程比較復(fù)雜?生成的測試施加也比較困難?