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外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的重要設(shè)備?它通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)?高性能的探針針 ...

探針臺(tái)(Probe Station)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的設(shè)備?探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo) ...

在進(jìn)行探針臺(tái)?測(cè)試機(jī)等設(shè)備的電路測(cè)試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...