外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的重要設(shè)備?它通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)?高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器組成?探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片?集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試，從而為研究和生產(chǎn)提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù) ?

在半導(dǎo)體制造過程中，晶圓經(jīng)過一系列加工步驟后，需要對(duì)外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)進(jìn)行電氣測(cè)試，以確保每個(gè)芯片的功能和性能符合設(shè)計(jì)要求?這種測(cè)試通常在晶圓級(jí)進(jìn)行，即在芯片封裝之前?

除此之外，它還具有很高的可擴(kuò)展性?它可以輕松地與其他測(cè)試設(shè)備連接，如自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(AOI)?X射線檢測(cè)設(shè)備，從而實(shí)現(xiàn)更多全面的測(cè)試和故障分析?這種可擴(kuò)展性不僅提高了測(cè)試效率，也提高了故障診斷的準(zhǔn)確性?