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原位X射線衍射 (X-ray diffraction? XRD) 可以在電池的充放電循環(huán)過程中, 實(shí) ...

電介質(zhì)充放電測(cè)試?yán)錈崤_(tái)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能?目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下 ...

高溫?zé)崤_(tái)是一款專為研究樣品在不同溫度下的光學(xué)性能而設(shè)計(jì)的設(shè)備?它能夠揭示樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特性 ...

真空轉(zhuǎn)移盒是一種在真空條件下安全轉(zhuǎn)移和處理樣品而設(shè)計(jì)的，通過創(chuàng)建一個(gè)密封的真空環(huán)境，極大地限制了樣品 ...

掃描電鏡冷熱臺(tái)(SEM冷熱臺(tái))是一種專門設(shè)計(jì)用于在掃描電子顯微鏡(SEM)中對(duì)樣品進(jìn)行原位變溫測(cè)試的 ...

X射線衍射 ( XRD ）是一種材料分析技術(shù)，在藥物成分的研究中被廣泛 ...

高溫?zé)崤_(tái)是一種專門針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，它能夠準(zhǔn)確表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特 ...

變溫微觀形貌測(cè)試是一種用于研究材料在不同溫度下微觀組織形貌變化的方法?這種方法對(duì)于理解材料的熱穩(wěn)定性 ...

錫球焊點(diǎn)剪切力測(cè)試是評(píng)估電子封裝中錫球焊點(diǎn)(如BGA?CSP等)連接可靠性的重要試驗(yàn)方法?其基本原理 ...

帕爾貼冷熱臺(tái)在電子器件工業(yè)測(cè)試中的多種應(yīng)用?1. 芯片性能測(cè)試在帕爾貼生產(chǎn)過程中?每個(gè)工藝 ...