隨著集成電路設計和制造技術的發(fā)展?一個集成電路芯片上可能集成了上千萬個甚至更多的元件?

由于上面提到的設計和制造方面的因素?這些元件可能存在缺陷從而導致集成電路故障?因此集成電路測試的重要性不言而喻?

與此同時?集成電路測試的復雜程度也越來越高?主要是因下面兩個因素造成的：

1. 測試時間的幾何級增加?隨著電路規(guī)模的增大?集成電路測試時間將呈現(xiàn)幾何級數(shù)增加。例如?一個有50個輸入端的組合電路?如果以每秒100萬次的速度來驗證該電路是否能實現(xiàn)其功能?需要約31年時間?

2. 測試對象的非直接性?集成電路是由大量的元件組成的?這些元件都在電路內部?通常是無法直接測量這些元件的邏輯電平和性能參數(shù)的?而所謂集成電路測試只能通過探針臺鏈接待測電路的對外引腳來進行?這種非直接性將增加測試的復雜性?

探針臺針對待測電路可能存在的所有故障?生成可以檢測它們的測試碼；

然后在測試系統(tǒng)中將這些測試碼施加到待測電路的輸入端?測試其輸出響應并進行分析?以確定是否存在故障?

測試碼生成也簡稱為測試生成?或者稱為測試圖形生成?是目前探針臺集成電路測試中最常用的技術?