在材料科學(xué)和電化學(xué)領(lǐng)域?研究材料的電學(xué)性能和潛在應(yīng)用需要了解其在不同溫度下的 C-F 和 C-V 特性?為了滿足這一需求?光谷薄膜探針冷熱臺(tái)可以適配一些電化學(xué)工作站?以便在不同溫度條件下進(jìn)行 C-F 和 C-V 測(cè)試?

該產(chǎn)品具有以下參數(shù)特點(diǎn)￤

1. 溫度范圍￤-190°C 至 600°C;

2. 溫度穩(wěn)定性￤±0.1°C;

3. 變溫速率￤0°C/min(連續(xù)變溫)或 80°C/min(逐點(diǎn)控溫);

4. 樣品臺(tái)尺寸￤30 × 30mm;

5. 探針￤最多可選擇 4 路鎢材質(zhì)(可根據(jù)需求定制)?杠桿式探針支架?接口同軸 BNC?

C-F 和 C-V 測(cè)試如下￤

首先?在設(shè)定的溫度下進(jìn)行 C-F 測(cè)試?通過(guò)改變頻率并記錄電容值的變化?分析材料的電容特性與頻率的關(guān)系?觀察不同頻率下電容值的波動(dòng)情況?以及是否存在明顯的頻率依賴性?

其次?在同一溫度下進(jìn)行 C-V 測(cè)試?通過(guò)改變電壓并記錄電容值的變化?分析材料的電容特性與電壓的關(guān)系?觀察不同電壓下電容值的變化趨勢(shì)?以及是否存在非線性或滯后現(xiàn)象?

光谷薄膜探針冷熱臺(tái)可以在不同溫度下進(jìn)行 C-F 和 C-V 測(cè)試?它不僅具有高精度和高穩(wěn)定性的溫度控制能力?還具備強(qiáng)大的電化學(xué)測(cè)試功能?為深入研究材料的電化學(xué)性能提供了有力工具?